掃查面盲區高度測定試塊 NB/T47013-2015
更新時(shí)間：2019-02-10???點(diǎn)擊次數：110次
該類(lèi)試快依據掃查面盲區高度測定試塊的要求而設計，適用于測定初初始掃差面的盲區高度。
超聲探傷、磁粉探傷、射線(xiàn)探傷、滲透探傷
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